实验  集成电路的逻辑功能测试

一、实验目的

1、熟悉Multisim14.0仿真软件环境;

2掌握集成逻辑门的逻辑功能;

3掌握集成与非门的测试方法

二、实验原理

TTL集成电路的输入端和输出端均为三极管结构,所以称作三极管、三极管逻辑电路(Transistor -Transistor Logic )简称TTL电路。54 系列的TTL电路和74 系列的TTL电路具有完全相同的电路结构和电气性能参数。所不同的是54 系列比74 系列的工作温度范围更宽,电源允许的范围也更大。74 系列的工作环境温度规定为0700C,电源电压工作范围为5V±5%V,而54 系列工作环境温度规定为-55±1250C,电源电压工作范围为5V±10%V

54H 74H,54S 74S 以及54LS 74LS 系列的区别也仅在于工作环境温度与电源电压工作范围不同,就像54 系列和74 系列的区别那样。在不同系列的TTL 器件中,只要器件型号的后几位数码一样,则它们的逻辑功能、外形尺寸、引脚排列就完全相同。

TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广,特别对我们进行实验论证,选用TTL 电路比较合适。因此,本实训教材大多采用74LS(74)系列TTL 集成电路,它的电源电压工作范围为5V±5%V,逻辑高电平为“1时≥2.4V,低电平为“0时≤0.4V

它们的逻辑表达式分别为:

1.1 本次实验所用基本逻辑门电路的逻辑符号图。

1.2 TTL 基本逻辑门电路

与门的逻辑功能为“有0 0,全1 1;或门的逻辑功能为“有11,全0 0;非门的逻辑功能为输出与输入相反;与非门的逻辑功能为“有0 1,全1 0;或非门逻辑功能为“有1 0,全0 1;异或门的逻辑功能为“不同则1,相同则0

三、实验示例实验内容及实验步骤

1基本集成门逻辑电路测试

1测试与门逻辑功能

74LS082输入端与门集成电路(见附录1),请按下图搭建电路,再检测与门的逻辑功能,结果填入下表中。

 

A

B

Y

0

0

 

0

1

 

1

0

 

1

1

 

2测试或门逻辑功能

74LS322输入端集成电路(见附录1),请按下图搭建电路,再检测或门的逻辑功能,结果填入下表中。

A

B

Y

0

0

 

0

1

 

1

0

 

1

1

 

3测试非门逻辑功能

74HC046个单输入非集成电路(见附录1),请按下图搭建电路,再检测非门的逻辑功能,结果填入下表中。

A

Y

0

 

1

 

4测试与非门逻辑功能

74LS002输入端与非集成电路(见附录1),请按下图搭建电路,再检测与非门的逻辑功能,结果填入下表中。

A

B

Y

0

0

 

0

1

 

1

0

 

1

1

 

5测试或非门逻辑功能

74LS022输入端或非集成电路(见附录1),请按下图搭建电路,再检测或非门的逻辑功能,结果填入下表中。

A

B

Y

0

0

 

0

1

 

1

0

 

1

1

 

6测试异或门逻辑功能

74LS862输入端异或集成电路,请按下图搭建电路,再检测异或门的逻辑功能,结果填入下表中。

A

B

Y

0

0

 

0

1

 

1

0

 

1

1

 

7测试同或门逻辑功能

74LS2662输入端同或集成电路,请按下图搭建电路,再检测同或门的逻辑功能,结果填入下表中。注意:部分版本74LS266存在问题可用4077BD代替

A

B

Y

0

0

 

0

1

 

1

0

 

1

1

 

2、利用与非门组成其他逻辑门电路

1)组成与门电路

74LS00中任意两个与非门组成如下图所示的与门电路,输入端接逻辑电平开关,输出端接指示灯LED,拨动逻辑开关,观察指示灯LED的亮与灭,测试其逻辑功能,结果填入下表中。

A

B

Y

0

0

 

0

1

 

1

0

 

1

1

 

2)组成或门电路

74LS00中任选三个与非门组成如下图所示的或门电路,输入端接逻辑电平开关,输出端接指示灯LED,拨动逻辑开关,观察指示灯LED的亮与灭,测试其逻辑功能,结果填入下表中。

 

A

B

Y

0

0

 

0

1

 

1

0

 

1

1

 

3)组成异或门电路

74LS00中的与非门按照下图所示的电路连线,输入端接逻辑电平开关,输出端接指示灯LED,拨动逻辑开关,观察指示灯LED的亮与灭,测试其逻辑功能,结果填入下表中。

 

A

B

Y

0

0

 

0

1

 

1

0

 

1

1

 

实验任务

请用或非门实现其他逻辑门电路,如与门、或门、非门、异或、同